اتهام صينيين في أمريكا بدخول الاختبارات بدلا من آخرين

student مصدر الصورة PA
Image caption يواجه المتهمون عقوبة الحبس لمدد تصل إلى 20 عاما في حال ثبوت الاتهام عليهم

وجهت وزارة العدل الامريكية اتهاما لـ 15 صينيا بانتحال شخصيات طلاب ودخول اختبارات القبول في الجامعات بدلا منهم.

وقالت الوزارة إن المتهمين استخداموا جوزات سفر مزيفة لخداع القائمين على الاختبارات وانتحال شخصيات الطلاب المفترض أن يتقدموا للاختبارات والقيام بأداء الاختبارات بدلا منهم.

ومارست المجموعة تلك الأعمال بين عامي 2011 وحتى 2015 وكان معظمها في بنسلفانيا.

ويمكن في حالة ادانتهم بتلك التهم مواجهة السجن لمدة 20 عاما.

وتضم مجموعة المتهمين ذكورا وإناثا وتتراوح أعمارهم ما بين 19 وحتى 26 عاما ويعيشون في مدينة متعددة منها بلاكسبرج، وفيرجينيا، وبوسطن، وماساتشوستس حيث توجد الجامعات الكبرى.

وقالت وزارة العدل إن المتهمين أدوا اختبارات القدرات الدراسية سات SAT وهو اختبار مهم في دخول الجامعات في الولايات المتحدة، وكذلك اختبار اللغة الانجليزية كلغة اجنبية توفل Tofel واختبار القبول في الدراسات العليا جي أر إي GRE.

وقال المدعي العام لمنطقة بنسلفانيا ديفيد هكتون إن الأشخاص الذين كان من المفترض أن يقوموا بأداء هذه الاختبارات ولم يؤدوها، استفادوا من هذا الغش بدخول الجامعات.

وقال هكتون إنه كانت هناك أيضا حالات غش في شروط الحصول على تأشيرات الطلاب باستخدام جوازات سفر صينية مزيفة.

ويقول جون كيلغان من مكتب تحقيقات الأمن الداخلي إن "المتهمين لم يقوموا بالغش فقط في دخول الجامعات بل قاموا بالغش أيضا في نظام الهجرة في بلادنا."

المزيد حول هذه القصة